1. Analysis of microelectronic materials and devices
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : Testing ، Microelectronics-- Materials,، Microstructure,Testing ، Microelectronics
رده :
TK
7871
.
A5
1991
2. Analysis of microelectronic materials and devices
پدیدآورنده : / edited by M. Grasserbauer and H.W. Werner
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Microelectronics -- Materials -- Testing,Microstructure,Microelectronics -- Testing
رده :
TK7871
.
A5
1991
3. Micrastructure and wear of materials
پدیدآورنده : Karl - Heinz Zum Gahr
موضوع : Materials --Testing,Microstructure,Mechanical wear,Tribology
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
4. Microstructure and wear of materials /
پدیدآورنده : Karl-Heinz Zum Gahr
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Testing,Mechanical wear,Microstructure,Tribology
رده :
TA418
.
72
.
Z86
1987
5. Physical methods for materials characterisation
پدیدآورنده : Flewitt, P. E. J
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Testing ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
410
.
F64
2003
6. Physical methods for materials characterisation
پدیدآورنده : Flewitt, P. E. J.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Materials - Testing , Microstructure
رده :
TA
410
.
F64
1994
7. Physical methods for materials characterisation
پدیدآورنده : Flewitt, P.E.J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
410
.
F64
2003
8. Physical methods for materials characterisation
پدیدآورنده : / P.E.J. Flewitt and R.K. Wild
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials - Testing.,Microstructure.
رده :
TA410
.
F64
9. Physical methods for materials characterisation
پدیدآورنده : Flewitt, P. E. J.
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : Testing ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
410
.
F54
2003
